DAQ-M 框架 - 180°全向版
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DAQ-M 框架 – 180°全向版

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此款180°全向支架专为DAQ-M测量环境光光谱而设计。只需拉出卡扣并将DAQ-M完全滑入即可。白色日光漫射器使您能在直射阳光下使用，避免光传感器过度曝光。支架底部配备标准1/4-20三脚架螺纹，便于快速安装。

此配件是将DAQ-M用作环境光传感器的理想选择，让您在采集Survey3多光谱图像时轻松记录光照变化。

设置DAQ-M进行持续测量后，通过MAPIR SCANNER移动应用程序导出测量数据，在处理Survey3图像的MCC软件中引入对应的.csv日志文件即可。

DAQ-M 安装方案

DAQ-M采用模块化设计，可灵活适配多种应用场景。根据您的使用需求，我们提供以下配套支架方案：

 

DAQ-M 框架 – 180°全向版 专为记录环境光光谱变化（如强烈直射日光）设计。记录的辐照度数据用于校正Survey3多光谱图像的百分比反射率，功能类似DAQ-A-SD。
T4 靶标适配版 – 180°全向版 专为记录环境光光谱变化（如强烈直射日光）设计。记录的辐照度数据用于校正Survey3多光谱图像的百分比反射率，功能类似DAQ-A-SD。该适配器可嵌入T4-R50校准靶标套装内部使用。
DAQ-M 框架 – 15°窄角版 15°与45°框架专为反射光测量设计。通过扫描T3/T4/T4P系列白色校准靶标，可将记录数据校准为百分比反射率，进而进行物体光谱特征比对。
DAQ-M 框架 – 45°窄角版 15°与45°框架专为反射光测量设计。通过扫描T3/T4/T4P系列白色校准靶标，可将记录数据校准为百分比反射率，进而进行物体光谱特征比对。