DAQ-M 框架 – 45°倾斜版

分类： DAQ-M

这款45度角支架可将DAQ-M的采集角度收窄至45度。只需拉出卡扣并将DAQ-M完全滑入即可。支架底部配备标准1/4-20三脚架螺纹，便于快速安装。

此配件是将DAQ-M用作野外光谱辐射计的完美选择，让您轻松扫描物体并记录其反射特征光谱。

用作反射率测量工具时，需使用我们T3或T4系列校准靶标套装中的白色反射率校准靶进行扫描。完成参考靶标及目标物扫描后，数据可在MCC软件中进行处理。

DAQ-M 安装方案

	DAQ-M 框架 – 180度全向版	专为记录环境光光谱变化（如强烈直射日光）设计。记录的辐照度数据用于校正Survey3多光谱图像的百分比反射率，功能类似DAQ-A-SD。
	T4靶标适配版 – 180度全向版	专为记录环境光光谱变化（如强烈直射日光）设计。记录的辐照度数据用于校正Survey3多光谱图像的百分比反射率，功能类似DAQ-A-SD。该适配器可嵌入T4-R50校准靶标套装内部使用。
	DAQ-M 框架 – 15度窄角版	15度与45度框架专为反射光测量设计。通过扫描T3/T4/T4P系列白色校准靶标，可将记录数据校准为百分比反射率，进而进行物体光谱特征比对。
	DAQ-M 框架 – 45度窄角版	15度与45度框架专为反射光测量设计。通过扫描T3/T4/T4P系列白色校准靶标，可将记录数据校准为百分比反射率，进而进行物体光谱特征比对。